Intelligence embarque IMA5 2022/2023 G4

Introduction

La commercialisation de produits incomplets ou de moindre qualité est assurément néfaste pour les affaires. Les effets peuvent se traduire par une perte de confiance des clients, Les analyses manuelles d'échantillons et les contrôles qualité aléatoires sont peu sûrs . La protection des marques et la sécurité des consommateurs jouent un rôle de plus en plus important.nous proposant cette solution de détection ou d'inspection des défauts des emballages des produits stm a titre d'exemple.

Description :

le facteur de qualite est mesuré en termes de plusieurs éléments parmi ceux-ci nous mentionnons l'emballage et la façon dont le produit est exposé.D'où l'émergence de notre idée, notre solution consiste à déceler la qualité de la boîte d'emballage d'un produit, nous prenons la boîte de la carte stm32 comme exemple de test.

Il s'agit d’un système qui assurent un contrôle efficace de la qualité et vous garantissent la perfection des emballages ainsi que la détection de corps étrangers jusqu’au contrôle final de l’emballage afin de respect des critères de qualité les plus élevés et celui des lois et normes en vigueur.

la décision sera prise selon la forme du packaging. Si la forme de la boîte est normale, le produit sera classé en tant que produit valide . Sinon le produit sera classé comme un produit défectueux .

   La photo ci-dessous représente le cas normal d'un emballage dont la forme souhaite.

   Les photos ci-dessous représentent le cas d'un emballage défectueux.
               

Ressources

Pour realiser ce système, nous avons :

Matériels :

   🔹La carte nucleo STM32F401RE Série Microcontrôleurs ARM
   🔹La carte STMicroelectronics X-NUCLEO-53L5A1 : une carte d'extension pour la carte de développement NUCLEO-F401RE.
                                                      
 

Logiciels :

   🔹STM32 NanoEdgeIAStudio
   🔹STM32CubeIDE

Les étapes de réalisations

Etape 0

   🔹La récupération des fichiers source du projet 
   🔹Exécution du programme initial du projet sur l'IDE.
   🔹Configuration du port série.
   🔹Récupération des valeurs captées par le capteur (un tableau de 4*4).
   🔹Modification des affichages afin d'avoir un fichier Csv de 36 valeurs par ligne avec une virgule comme séparateur.

Etape 1

   🔹Réalisation d'une maquette de teste (la photo ci-dessous)

Nous avons réalisé une maquette en carton en positionnant le capteur en haut pour que les pièces à testé soit en dessous du capteur

   🔹collecte des valeurs pour les différents cas de test
   🔹Réalisation du premier Banchmark

Le premier benchmark était moins efficace ,cela due au nombre des lignes de chaque signal, regular et abnormal, que nous avons collecté, c'est pour cela nous avons ressayé de creer un autre avec plus de valeurs (150 lignes par signal approximativement).

A ce stade avec une seconde tentative, nous avons réussi à obtenir un benchmark avec les fonctionnalités suivantes:

   🔹Score 98.69%
   🔹Balanced accuracy 99.84%

Etape 3

Grace au resultat de benchmark que nous avons eu precedement, nous avons integres le model (librarie) que nous avons pu generer par le logiciel nano edge

Resultats:

                                                  Fichier:SupportIE.pdf
                                                  Fichier:VideoEI1.mp4
                                                  Fichier:VideoEI2.mp4